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用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具。
周期稳定冷热冲击试验箱箱体结构：
1.箱体外壁材料：外表面钢板喷塑。
2.箱体内壁材料：SUS304不锈钢板。
3.观察窗：高温箱安装矩形多层中空隔热玻璃热玻璃观察窗一个(300×200mm )观察窗上安装照明灯。
4.保温材料：超细玻璃纤维棉将内室、外壳、高温室、低温室连接成一个整体。
5.样品架承重：不大于20公斤。
6.样品架移动方式：样品架依靠安装箱体顶部的直线往复驱动系统作上下移动。
7.机台底部加装高承载滑轮，以便移动设备。
8.此设备分为高温区、低温区、测试区三部分，测试样品*静止。采用*之蓄热、蓄冷结构，
9.强制冷热风路切换方式导入测试区，完成冷热温度冲击测试。
技术参数：
1.内箱尺寸：35×35×40(可按客户要求定制)
2.外箱尺寸：151×182×142
3.试验方式：气动风门切换2温室或3温室方式
4.高温室预热温度范围：+60~+200℃
5.升温速率：+60→+200℃约20分钟
6.低温室预冷温度范围：-78→0℃
7.降温速率：+20→-75℃ 约70分钟
8.试验室温度偏差：±2℃
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